ГОСТ Р 57394-2017
Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность
| Обозначение: | ГОСТ Р 57394-2017 |
|---|
| Статус: | действующий |
|---|
| Тип: | ГОСТ Р |
|---|
| Название русское: | Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность |
|---|
| Название английское: | Integrated circuits and semiconductor devices. Methods of accelerated tests for non-failure operation |
|---|
| Дата актуализации текста: | 05.05.2017 |
|---|
| Дата актуализации описания: | 21.04.2018 |
|---|
| Дата издания: | 17.04.2017 |
|---|
| Дата введения в действие: | 01.01.2018 |
|---|
| Дата последнего изменения: | 11.01.2018 |
|---|
| Область и условия применения: | Настоящий стандарт устанавливает методы ускоренных испытаний на безотказность полупроводниковых интегральных микросхем и полупроводниковых приборов (далее - изделий), предусматривающие форсирование режимов эксплуатации |
|---|
| Расположен в: | |
|---|
| 
