Вернуться в "Каталог ГОСТ"
ГОСТ 8.593-2009
Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки
| Обозначение: | ГОСТ 8.593-2009 |
|---|---|
| Статус: | действующий |
| Тип: | ГОСТ |
| Название русское: | Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки |
| Название английское: | State system for ensuring the uniformity of measurements. Atomic-force scanning probe microscopes. Method for verification |
| Дата актуализации текста: | 06.04.2015 |
| Дата актуализации описания: | 21.04.2018 |
| Дата издания: | 10.06.2010 |
| Дата введения в действие: | 01.11.2010 |
| Дата последнего изменения: | 11.01.2018 |
| Область и условия применения: | Настоящий стандарт распространяется на сканирующие зондовые атомно-силовые микроскопы, применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10 (в степени минус девять) до 10 (в степени минус шесть) м, и устанавливает методику их первичной и периодических поверок с использованием рельефных мер по ГОСТ 8.591 и ГОСТ 8.592 |
| Расположен в: | Общероссийский классификатор стандартов → Метрология и измерения. Физические явления → Линейные и угловые измерения → Линейные и угловые измерения в целом |
Вернуться в "Каталог ГОСТ"
|
|
|