Вернуться в "Каталог ГОСТ"
ГОСТ Р 8.698-2010
Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра
Обозначение: | ГОСТ Р 8.698-2010 |
---|---|
Статус: | действующий |
Тип: | ГОСТ Р |
Название русское: | Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра |
Название английское: | State system for ensuring the uniformity of measurements. Dimensional parameters of nanoparticles and thin films. Method for measurement by means of a small angle X-ray scattering diffractometer |
Дата актуализации текста: | 06.04.2015 |
Дата актуализации описания: | 21.04.2018 |
Дата издания: | 11.05.2010 |
Дата введения в действие: | 31.08.2010 |
Дата последнего изменения: | 11.01.2018 |
Область и условия применения: | Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения следующих измерений с помощью автоматического рентгеновского малоуглового дифрактометра: <br> - максимальных размеров и электронных радиусов инерции наночастиц в монодисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм; <br> - распределения наночастиц по размерам в полидисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм; <br> - общей толщины и размера периода повторения слоев в многослойных пленках толщиной от 1 до 100 нм. <br> Настоящий стандарт распространяется на: <br> - материалы, содержащие системы наночастиц со среднеарифметическим расстоянием между ними не менее 10 максимальных линейных размеров, с однородной электронной плотностью, большей или меньшей электронной плотности окружающей их среды; <br> - многослойные пленки с известным числом одинаковых групп слоев, изготовленные на твердых плоских подложках |
Расположен в: | Общероссийский классификатор стандартов → Метрология и измерения. Физические явления → Линейные и угловые измерения → Линейные и угловые измерения в целом |