ГОСТ 18986.7-73
Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда
| Обозначение: | ГОСТ 18986.7-73 |
|---|
| Статус: | действующий |
|---|
| Тип: | ГОСТ |
|---|
| Название русское: | Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда |
|---|
| Название английское: | Semiconductor diodes. Methods for measuring life time |
|---|
| Дата актуализации текста: | 06.04.2015 |
|---|
| Дата актуализации описания: | 21.04.2018 |
|---|
| Дата издания: | 01.05.2004 |
|---|
| Дата введения в действие: | 01.01.1975 |
|---|
| Дата последнего изменения: | 11.01.2018 |
|---|
| Переиздание: | переиздание с изм. 1 |
|---|
| Область и условия применения: | Настоящий стандарт распространяется на импульсные, смесительные и умножительные диоды СВЧ.
<br> Стандарт устанавливает два метода измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда: для импульсных и смесительных диодов СВЧ; для импульсных диодов с накоплением заряда и умножительных диодов СВЧ |
|---|
| Список изменений: | №0 от (рег. ) «Срок действия продлен»
№1 от (рег. ) «Срок действия продлен»
|
|---|
| Расположен в: | |
|---|
| Приложение №0: | Изменение №1 к ГОСТ 18986.7-73 |
|---|
Приложение к ГОСТу
Изменение №1 к ГОСТ 18986.7-73
| Обозначение: | Изменение №1 к ГОСТ 18986.7-73 |
|---|
| Дата введения в действие: | 01.02.1983 |
|---|
Текст поправки интегрирован в текст или описание стандарта.
| 
