Вернуться в "Каталог ГОСТ"
ГОСТ 8.171-75
Государственная система обеспечения единства измерений. Меры поверхностной плотности для радиоизотопных толщиномеров. Общие технические условия
| Обозначение: | ГОСТ 8.171-75 |
|---|---|
| Статус: | действующий |
| Тип: | ГОСТ |
| Название русское: | Государственная система обеспечения единства измерений. Меры поверхностной плотности для радиоизотопных толщиномеров. Общие технические условия |
| Название английское: | State system of ensuring the uniformity of measurements. Actual measures of the surface density for radiation thickness gauges. General specifications |
| Дата актуализации текста: | 06.04.2015 |
| Дата актуализации описания: | 21.04.2018 |
| Дата издания: | 10.11.1975 |
| Дата введения в действие: | 01.01.1977 |
| Дата последнего изменения: | 11.01.2018 |
| Область и условия применения: | Настоящий стандарт распространяется на меры поверхностной плотности, предназначенные для воспроизведения единицы поверхностной плотности листовых и ленточных материалов в диапазоне от 2 до 30000 г/м кв. на площади от 5 до 600 см кв |
| Список изменений: | №1 от (рег. ) «Срок действия продлен» №2 от (рег. ) «Срок действия продлен» №3 от (рег. ) «Срок действия продлен» |
| Расположен в: | Общероссийский классификатор стандартов → Метрология и измерения. Физические явления → Линейные и угловые измерения → Измерительные приборы |
| Приложение №0: | Изменение №1 к ГОСТ 8.171-75 |
| Приложение №1: | Изменение №2 к ГОСТ 8.171-75 |
| Приложение №2: | Изменение №3 к ГОСТ 8.171-75 |
Вернуться в "Каталог ГОСТ"
|
|
|