ГОСТ 26239.5-84
Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей
| Обозначение: | ГОСТ 26239.5-84 |
|---|
| Статус: | действующий |
|---|
| Тип: | ГОСТ |
|---|
| Название русское: | Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей |
|---|
| Название английское: | Semiconductor silicon and quartz. Method of impurities determination |
|---|
| Дата актуализации текста: | 06.04.2015 |
|---|
| Дата актуализации описания: | 21.04.2018 |
|---|
| Дата издания: | 21.01.1985 |
|---|
| Дата введения в действие: | 01.01.1986 |
|---|
| Дата последнего изменения: | 11.01.2018 |
|---|
| Область и условия применения: | Настоящий стандарт устанавливает нейтронно-активационный метод определения примесей в нелегированном полупроводниковом кремнии и кварце.
<br> Метод не распространяется для анализа кремния марок КЭС-0,01 и КЭМ-0,01 |
|---|
| Список изменений: | №1 от (рег. ) «Срок действия продлен»
|
|---|
| Расположен в: | |
|---|
| Приложение №0: | Изменение №1 к ГОСТ 26239.5-84 |
|---|
Приложение к ГОСТу
Изменение №1 к ГОСТ 26239.5-84
| Обозначение: | Изменение №1 к ГОСТ 26239.5-84 |
|---|
| Дата введения в действие: | 01.01.1991 |
|---|
Текст поправки интегрирован в текст или описание стандарта.
| 
